SJ 20642/2-1998 半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范
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基本信息
| 标准名称： | 半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范 |
| 英文名称： | Semiconductor opto-electronic module-Detail specification for Type GD82 PIN-FET opto-receiver module |
| 中标分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1998-03-11 |
| 实施日期： | 1998-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部第十三研究所 |
| 起草人： | 顾振球、常利民、朱晓东、魏爱新 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1998-04-01 |
| 页数： | 14页 |
适用范围
本规范规定了GD82-B型PIN-FET光接收模块的详细要求。本规范适用于GD82-B型PIN-FET光接收模块（以下简称模块）的研制、生产和采购。按SJ 20642《半导体光电模块总规范》1.1条的规定，提供的质量保证等级为M1和M2二级。
前言
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目录
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引用标准
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
GJB 150.1-25-1986 军用设备环境试验方法
GJB 179-1986 计数抽样检查程序及表
GJB 548-1988 微电子器件试验方法和程序
GJB 915-1990 纤维光学试验方法
SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范
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