EN 301140-3-3-2000 智能网(IN).智能网应用协议.能力组2.第3部分:业务接通功能的成套试验装置及试验目的规范.第3-3部分:专业化资源功能

作者:标准资料网 时间:2024-04-28 16:25:36   浏览:9865   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:IntelligentNetwork(IN)-IntelligentNetworkApplicationProtocol(INAP);CapabilitySet2(CS2)-Part3:TestSuiteStructureandTestPurposes(TSS&TP)specificationforServiceSwitchingFunction(SSF);Sub-part3-3:SpecializedResourceFunctions(S
【原文标准名称】:智能网(IN).智能网应用协议.能力组2.第3部分:业务接通功能的成套试验装置及试验目的规范.第3-3部分:专业化资源功能
【标准号】:EN301140-3-3-2000
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2001-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:信号传输;智能网络;远程通信;电信;电信;电路网络;通信;特点;传输协议;通信网;试验;网络互连;等级协议
【英文主题词】:Circuitnetworks;Communicationnetworks;Features;Intelligentnetworks;Levelprotocol;Networkinterconnection;Signaltransmission;Telecommunication;Telecommunications;Testing;Transmissionprotocol
【摘要】:
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:33_040_35
【页数】:1P.;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Specificationforsafetyofhouseholdandsimilarelectricalappliances.Particularrequirements.Commercialelectricranges,ovensandhobelements
【原文标准名称】:家用和类似用途电器的安全规范.第202部分:特殊要求.第36节:商用电灶、电烤箱和电灶头
【标准号】:BS3456Pt.202Sec.202.36-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-09-28
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:防护电气设备;试验条件;不透水性试验;电驱动装置;炉架;烘箱;商业的;温升极限;软导体;泄漏电流;炊用炉;电气安全;作标记;灶具;接地;给养设备;使用说明;试验设备
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y60;X99
【国际标准分类号】:97_040_20
【页数】:52P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:太阳电池用硅单晶
英文名称:Monocrystalline silicon of solar cell
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2010-09-02
实施日期:2011-04-01
首发日期:2010-09-02
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:有研半导体材料股份公司、万向硅峰电子股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、西安隆基硅材料有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司
起草人:孙燕、张果虎、卢立延、楼春兰、蒋建国、曹宇、孙世龙、袁文强
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-04-01
页数:12页
适用范围

本标准规定了太阳电池用硅单晶的技术要求、试验方法,检验规则以及标志、包装、运输、贮存。
本标准适用于直拉掺杂制备的地面空间太阳电池用硅单晶。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T1554 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T1558 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T14140 硅片直径测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
SEMIMF1535 用微波反射光电导衰减法非接触测量硅片载流子复合寿命的测试方法

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料