NF C57-108-2000 晶体硅光电(PV)阵列.I-V特性现场测量
作者:标准资料网
时间:2024-04-20 00:47:33
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【英文标准名称】:Crystallinesiliconphotovoltaic(PV)array-OnsitemeasurementofI-Vcharacteristics.
【原文标准名称】:晶体硅光电(PV)阵列.I-V特性现场测量
【标准号】:NFC57-108-2000
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2000-10-01
【实施或试行日期】:2000-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristiccurves;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Insitu;Measurement;Photovoltaics;Powerratings;Silicon;Solarenergy;Testconditions;Testing;Voltagecharacteristic
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:晶体硅光电(PV)阵列.I-V特性现场测量
【标准号】:NFC57-108-2000
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2000-10-01
【实施或试行日期】:2000-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristiccurves;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Insitu;Measurement;Photovoltaics;Powerratings;Silicon;Solarenergy;Testconditions;Testing;Voltagecharacteristic
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:13P;A4
【正文语种】:其他
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